仪器简介
QCM Research Platform A20测试系统基于声波传感原理,可通过石英传感器频率变化和导纳的频率特征来检测芯片表面微小的质量和结构变化。具有倍频操作模式,测试频率高达160MHz,灵敏度可达0.1ng/cm2。
声波传感器基于声波在石英芯片本体传播的性质变化,精确测量芯片表面吸附膜质量和结构变化。。 当吸脱附反应发生在芯片表面时,表面波的频率和振幅将发生变化。当吸附膜为刚性膜时,频率变化正比于质量变化,根据Sauerbrey方程可计算出吸附膜质量。 吸附膜为柔性膜时,通过测量频率和耗散可获得膜的构象变化。通过倍频测量频率和耗散可拟合得到具体的粘弹性信息 主要特点版权所有:瑞德科图(北京)科技有限公司 地址:北京市海淀区后屯南路26号专家国际公馆521室 邮编:100192